光学ディバイス、半導体素子、基板モジュール、MEMS製品等の温度特性DATA採取を目的とした卓上型からマイクロ型までの高精度恒温槽を被測定物の形状、特徴等考慮した完全オーダーメイドによる企画設計開発システムを提供。又恒温システムに用いられる露結防止真空システムチャンバー、窒素循環装置等、計測時に必要と成る観察用顕微鏡、DATA採取ロガ、プローブ、XYZステージ、光解析分光システム等を付与し、これらシステム全体のPC制御をも可能と致します。
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